CASW-62G復合開關缺點
(1)實際運行情況已經表明了復合開關的故障率相當高。
(2)由于采用了可控硅等電子元器件其結構復雜成本上升，與交流接觸器在價格上難以相比。
(3 )復合開關的過零是由電壓過零型光耦檢測控制的，從微觀上看它并不是真正意義上的過零投切，而是在觸發電壓低于16V~40V時（相當于2～5電度）導通，因而仍有一點涌流。
(4)復合開關技術既使用可控硅又使用繼電器，于是結構就變得相當復雜，并且由于可控硅對dvldt的敏感性也比較容易損壞。
由上述分析比較可見，各種電容器投切開關并非十分完美，有必要進一步研究開發出一種更為理想的電容器過零投切開關。
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